AOI設(shè)備的上游主要包括光學(xué)元件供應(yīng)商和機(jī)械元件、運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)提供商，其中機(jī)械設(shè)備與其他技術(shù)的通用性較高，一般廠商均可提供；光學(xué)元件根據(jù)設(shè)備需求精密度要求不同，除了高級設(shè)備對工業(yè)相機(jī)要求較高以外總體可選擇的采購商較多；上游供應(yīng)不會(huì)對設(shè)備商構(gòu)成制約因素。下游主要包括PCB、FPD、半導(dǎo)體和其他行業(yè)AOI設(shè)備在SMT產(chǎn)線中的位臵通常為印刷后、貼片后（爐前）和回流焊后（爐后），其中印刷后是檢測的重要位臵，數(shù)據(jù)顯示60%-70%缺陷出現(xiàn)在印刷環(huán)節(jié)，在印刷后若能及時(shí)發(fā)現(xiàn)焊膏缺陷，只需洗板重新印刷即能重新獲得良品，維修成本比較低貼片后的位臵可視情況選擇是否放臵，若能在回流焊前發(fā)現(xiàn)缺陷維修成本尚低，到回流焊后則不僅成本較高，還有可能導(dǎo)致整個(gè)PCB報(bào)廢，因此對貼片后的檢測也將更加重視；回流焊后作為產(chǎn)品流出前的檢測是AOI當(dāng)下流行的位臵，可有效提高產(chǎn)品良率。根據(jù)2000年的數(shù)據(jù)，20.8%的AOI應(yīng)用于印刷后，21.3%用于貼片后，57.9%用于回流焊后，也基本印證了這種分配屬于市場認(rèn)可的主流方案。除了SMT檢測，AOI設(shè)備在PCB行業(yè)還可以用于DIP檢測、外觀檢測等。其中DIP檢測與SMT類似，關(guān)鍵的放臵位臵是波峰焊后的檢測；外觀檢測可針對包括HDI、柔性板在內(nèi)的電路板.AOI的設(shè)備構(gòu)成AOI檢測的工作邏輯？茂名AOI檢測設(shè)備值得推薦

AOI檢測是制造業(yè)視覺檢測系統(tǒng)產(chǎn)業(yè)中視覺檢測設(shè)備的一部分。AOI檢測被普遍運(yùn)用于PCB印刷電路板、平板顯示器和半導(dǎo)體芯片等電子元器件領(lǐng)域，是現(xiàn)階段PCB印刷電路板和集成電路芯片生產(chǎn)過程中，至關(guān)重要的組成部分。一、AOI檢測的崛起和發(fā)展我國AOI檢測行業(yè)從20世紀(jì)80年代逐漸開始發(fā)展，迄今為止大概經(jīng)歷過四個(gè)階段：從1985年的空白期到現(xiàn)在的智能化系統(tǒng)，從人工目檢到3DAOI視覺檢測技術(shù)的不斷應(yīng)用，伴隨著SMT組裝向標(biāo)準(zhǔn)化和精細(xì)化發(fā)展，AOI檢測設(shè)備具備寬闊的應(yīng)用前景。珠海半導(dǎo)體AOI檢測設(shè)備廠家價(jià)格AOI檢測圖像對比實(shí)現(xiàn)原理目前比較流行的圖像對比方式有哪三種？

AOI的發(fā)展需求集成電路（IC）當(dāng)然是現(xiàn)今人類工業(yè)制造出來結(jié)構(gòu)精細(xì)的人造物之一，而除了以IC為主的半導(dǎo)體制造業(yè)，AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測需求。①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測，典型應(yīng)用就是集成電路、芯片的制造、封裝等，既需要高精度又需要高效率的大量檢測②精密零件與制程的精密加工與檢測，典型應(yīng)用就是針對工具機(jī)、航空航天器等高精度機(jī)械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測，具有高精度、量測條件多變等特點(diǎn)。③生物醫(yī)學(xué)檢測應(yīng)用，典型應(yīng)用就是各式光學(xué)顯微鏡，結(jié)合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學(xué)信息判斷。④光學(xué)鏡頭或其他光學(xué)元件的像差檢測。?

AOI檢測發(fā)展歷程：1985年至1995年期間，我國的AOI由空白期逐漸衍生：我國引進(jìn)首臺(tái)貼片機(jī)后，AOI檢測進(jìn)入起步階段；1996年至2003年期間，以康耐德視覺為首的企業(yè)開啟AOI檢測設(shè)備的國內(nèi)生產(chǎn)制造的之路；2004年至2010年期間，我國進(jìn)入了AOI的快速發(fā)展期：AOI新技術(shù)不斷發(fā)展，國內(nèi)品牌開始與國外品牌進(jìn)行戰(zhàn)略性合作，不斷研制更先進(jìn)的設(shè)備。2011年后，我國AOI進(jìn)入人工智能化階段：伴隨著大數(shù)據(jù)、人工智能、機(jī)器學(xué)習(xí)等新技術(shù)的不斷應(yīng)用，AOI檢測不斷朝著智能化系統(tǒng)方向進(jìn)步。AOI檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困，歡迎了解。

二、AOI被應(yīng)用于電子元器件檢測時(shí)主要運(yùn)用在中下游領(lǐng)域AOI檢測目前階段主要對于PCB印刷電路板的光板、錫膏印刷、元件、焊后組件以及集成電路芯片的晶圓外觀、2D/3D、Bumping和IC封裝等領(lǐng)域開展檢測。PCB印刷電路板：PCB光板檢測，錫膏印刷檢測，元件檢測，焊后組件檢測等；集成電路芯片：晶圓外觀檢測、2D/3D檢測，Bumping檢測、IC封裝檢測等；FPD平板顯示器：Mura缺陷檢測，Colorfilter檢測，PI檢測，LC液晶檢測，色度、膜厚、光學(xué)密度檢測LC液晶檢測，色度、膜厚、光學(xué)密度檢測；其他行業(yè)汽車電子檢測、MicroCrack檢測等；早前的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備主要用于檢測IC（即集成電路）封裝之后的表面印刷是否存在缺陷。佛山國內(nèi)AOI檢測設(shè)備

AOI自動(dòng)光學(xué)檢測逐漸取代傳統(tǒng)的人工目檢，被普遍應(yīng)用于LCD/TFT、晶體管和PCB等工業(yè)過程中。茂名AOI檢測設(shè)備值得推薦

SMT中應(yīng)用的錫膏檢測技術(shù)的形式多種多樣，但其中AOI的基本原理是相同的，就是用光學(xué)原理獲取被測物品圖象，一般通過攝像機(jī)獲得檢測物的照明圖象然后數(shù)字化，再以某種方法進(jìn)行比較、分析、檢驗(yàn)和判斷，相當(dāng)于將人工目視檢測轉(zhuǎn)變?yōu)樽詣?dòng)化、智能化。AOI分析和判斷的算法可分為兩種，一種是設(shè)計(jì)規(guī)則檢驗(yàn)（矢量分析），一種是圖形識別檢驗(yàn)。矢量分析是按照固定的規(guī)則檢測圖形。一般是所有連線以焊點(diǎn)為端點(diǎn)，所有引線寬度、間隔不小于某一規(guī)定值等規(guī)則檢測PCB電路圖形。茂名AOI檢測設(shè)備值得推薦

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